都灵（意大利）
6月 04, 2024
SPEA 将在 Semicon West 2024 上重定义半导体测试
SPEA很高兴地宣布参加即将于 2024 年 7 月 9 日至 11 日在旧金山莫斯康中心举行的 Semicon West 贸易展览会。基于去年活动的成功，SPEA 将再次在南厅 965 号展位展示其创新测试技术。
在莫斯康中心，SPEA 的创新和专业知识将使该品牌成为产品质量和可靠性至关重要的行业中首屈一指的技术解决方案公司。
在南大厅 965 号展位，SPEA 将通过展示以下新技术来展示其对测试未来的愿景。
利用 SPEA DOT 提高测试效率
来SPEA 展位的参观者将有机会体验 SPEA 面向设备的测试仪 (DOT800) 的测试未来。这款革命性的混合信号测试仪利用独特的“板上测试仪”概念，将所有测试资源集成到一块板上。这简化了测试仪通道和被测设备之间的连接，从而简化了整个测试过程。
DOT 系列产品的多处理器、多功能通道架构无缝地结合了模拟、数字和信号处理功能。这包括多个控制 CPU、DSP 模块和可编程逻辑单元。模块化和可配置的设计允许包含板载控制器和最多四个通道卡，从而实现定制以完美匹配个别测试要求。
每个通道卡都拥有专用的矩阵卡，进一步简化了负载板设计并减少了继电器的使用。 SPEA 的 DOT 平台消除了对多种不同类型仪器的需求，从而允许由相同的、可复制的仪器组成的系统。这显着降低了系统复杂性，简化了编程和维护，并确保了出色的设备测试覆盖率。
全面的功率半导体测试解决方案
SPEA 还将展示其 DOT800T 测试仪，这是一套用于功率半导体测试的综合解决方案。该多功能平台集成了在单台机器内对各种电源应用执行 ISO、交流和直流测试所需的所有资源。 DOT800T 专为测试传统硅器件以及尖端氮化镓和碳化硅技术而设计，拥有业界领先的电压和电流源功能，以及高频和低电流测量精度。
DOT800T的多核架构有助于跨专用站准确执行静态、动态和隔离测试，每个专用站都配备独立的控制器。多个测试程序可以以异步模式同时运行，每个核心控制器管理自己的资源、仪器连接和测试程序执行。
欢迎加入 SPEA 参加 2024 年西部半导体展
SPEA 欢迎所有 Semicon West 与会者参观 965 号展位，利用 SPEA DOT 平台和 DOT800T 解决方案探索半导体测试的未来。 SPEA 的专家团队将现场回答问题并展示这些创新测试技术的功能。
