智能卡模块测试装置

CPU、内容、射频识别、超高频、Combi 设备

主要特点

 

  • 测试+处理统包方案
  • 快速设置转换时间
  • 测试量高达59,000 UPH
  • 全系统模块化
  • 卷带拉伸功能

单个制造商统包解决方案

 

“SPEA智能卡测试装置”的独特功能是能够作为单个设备执行智能卡模块的卷到卷处理和完整测试,覆盖所有可能的电气缺陷和弃孔定位缺陷。

探针卡、软件(能进行测试和处理的单一接口和通用数据记录)和由SPEA直接提供的完整支持。

非常高的测试量

  • 较高的多站点测试:最多80个并行测试设备
  • 较高的测试效率处理:最多59.000 UPH (@200ms测试时间)
  • 快速系统重新配置和卷盘交换:在5分钟内完成设置转换
  • 自动重新测试:故障装置可编辑重新测试(故障选择)
  • 自动探针卡修正:故障装置可编辑探针卡修正(故障选择)

卷对卷处理能力

  • 卷带定位精度:最高50 µm
  • 基于高分辨率摄像机的卷带运动控制器
  • 双接口装置(Combi装置)测试用顶部/底部双测试头
  • 自动重新对正,以覆盖塑料卷带延伸
  • 快速冲带(绝缘和不合格)

功能测试

  • 在实际工作模式下设备功能测试
  • 不依赖于设备的初始化和编程

参数测试

在稳定条件下,在规定的管脚上进行电流和电压测量。

直观&易操作的软件

 

  • 智能卡设备系列套件测试编辑器,用于所有智能卡设备系列的简单、快速、指导式测试流生成
  • 处理和测试通用数据记录
  • 实时生产信息
  • 图形统计
  • 实时卷带流状态
  • 索引、跟踪和拒绝摄像机视图
  • 简单而功能强大的操作控制台,可用于手动干预生产

各种智能卡设备类型

设备

Combi设备(接触式+非接触式)

非接触式设备

接触式设备

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