主要特点
- 双面探测：全面的接触&并行测试
- 测试电路板最大尺寸：1000 x 610mm (39.4×24’’)
- 测试电路板最大重量20kg
- 测试范围全覆盖
- 内置/自动/手动加载测试电路板
- Micro-SMD & 灵活的电路板探测
特点
多模式双面测试仪
多模式双面测试仪
4060 S2结合了双面飞针测试仪的优点，并可以加装其他工具，例如固定探针、平面支撑架、微型针床夹具等。
- 双面飞针
- 底部多探测点飞针测头
- 多模式探测
也拥有最大的测试区域
也拥有最大的测试区域
- 较大的测试区：拥有较大的测试区，使4060 S2可对最大1000 x 610mm (39.4×24’’)的电路板进行测试
- 背板：4060 S2可对安装有任何类型连接器的背板进行测试。
- 高尺寸组件：4060 s2还能对带有变压器、散热器、连接器、前面板、极化电容器和其他高达110mm的高尺寸组件的PCB进行测试。
最佳测量精度
最佳测量精度
- 最高测量性能和精度（1 pF）
- 信号完整性
- 无测量退化和干扰
-
即时信号采集 (几百微秒内)
可对最小部件进行快速准确的探测
可对最小部件进行快速准确的探测
- 超高速轴。大功率直线电机
- 精准的微焊盘接触
- 超快速软触摸技术
完全可测以及并行测试
双面植针。顶部4个底部2 个可移动测试头使得4060 S2 能够在双面同时植针，增加产出以及测试能力.
底部多针飞针头。除了为电路测试的导电探针，两个底部多针飞针头可以带动高速上电探针，支撑杆，高分辨率相机，多探针，激光/LED探针以及Electro scan 探针，涵盖了最全面的测试需要，动态的平面支撑使得薄板测试更加稳定，避免了电路板因为行程引起的震动。
多模式植针。当顶部的4 针用于电路板顶部测试时，底部可升降平台用于针床治具，多个大电流源，数字I/O，高速信号，平面支撑。
方便。快捷。自我编程。
- 几分钟内，自动测试程序生成
- 自动测试程序生成，不论是不是用CAD文件
- –50%测试程序生成时间，采用新的S2系统控制
- 更快速& 全面地自动调试&调整
- 自动电路板维修软件
- 自动拾取&放置X-Y文件导入
- 内置自测（BIST）兼容
- 便于用户操作的图形界面
- 可进行监控、分析和优化生产过程的控制软件
测试能力
闪屏
热测试
内置自测
边界扫描
波形捕捉
电路测试
3D激光测试
LED灯测试
光学测试
开机测试
开放PIN扫描
节点抗阻测试
100%短路测试
功能测试
技术数据
| 4060 S2 | |
|---|---|
| 应用 | 适用于中等至大宗生产 |
| 测试效率 | 非常高的测试量 |
| 底盘 | 结构钢 |
| UUT探测 | 双面 + 单面 合并的 |
| 多探测点飞针测头 | 6个（顶部4个+底部2个） |
| 最大电路板尺寸（长x宽） | 手动: 686 x 610mm (27 x 24’’) 在线: 1000 x 610mm (39.4 x 24’’)* |
| 占地面积（长x宽） | 1750 x 1272mm (2.2m2) |
| * 对于更大的板，请联系SPEA。 |
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