将两台测试仪合二为一,
测试效率可达 100%

DOT800
8.000+ 个通道,浓缩在一台零占地的设备之内。

Semiconductor test - Analog Mixed Signal Tester - DOT800 SPEA

DOT800 将两台测试仪的能力融合到一个只有测试头的系统中,提供了真正不占用空间的解决方案。采用创新的面向器件的仪器,所有模拟、数字和信号处理资源都集中在一个功能强大的可配置主板上。测试性能优越,对于众多设备来说,多站点效率 >99.5%。

应用

汽车

电源管理

微机电系统和传感器

移动通信

数字和混合信号

MCU

医疗

电力和分立器件

线性

串行器/解串器

工业级

物联网、射频及无线应用

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多核心架构

 

DOT800 由两个体积小于 0.3 立方米的独立系统核心构成。每个核心配有一个专用 CPU,用于在全异步模式下执行测试程序,从而确保达到最高的并行测试效率。这种架构在推出市场和测试速度方面拥有巨大的优势。

不同工作站并行编程

加速您的测试程序研发:两位开发工程师可同时在同一系统中开发测试程序。

并行测试不同 DUT

一台测试仪可以在全异步模式下同时测试两个不同应用。

并行测试不同 IP

系统可以在异步模式下通过相同器件的两个不同 IP,同时运行两个不同的测试程序。

测试仪内置在主板上

 

DOT800 仪器将所有模拟、数字和信号处理资源集中在一个强大的主板上,可实现多站点测试,内设多个主控 CPU、DSP 模块和可编程逻辑单元。这种主板内置测试仪的模块可配置,您可以在 DOT800 中加装单一类型的仪器,从而大幅简化系统构成、程序设计和维护,同时最大程度满足所有器件测试要求,甚至是高于这些要求。

 

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Semiconductor Test - Mixed Signal Tester - Instrumentation SPEA

5G 测试

DOT800测试机可以对5G的产品在低频段、中频段和高频段进行完整的功能测试,最高频率可达到81GHz.

这是一种创新的板载测试技术,将射频测试资源直接集成在测试机板卡上,同时实现低成本和高测试覆盖率,让您无需专用射频测试机即可全面测试您的毫米波产品。

 

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直接对接

 

在 DOT800 中,测试仪和待测器件之间只需使用一个探针卡:无需单独的装载板或探针塔元件。这减小了硬件成本和开发时间,同时确保晶圆针处也有良好的信号完整性,这是因为测试仪管脚和待测器件之间的元件数量大幅降低。
DOT800 集成了市场上的主流探针型号:探针卡自动装载和锁闭功能提高了总体测试单元效率,并提供了最好的平面度控制、自动正确锁闭验证和最大安全性。可利用相同的对接接合器在左侧或背面对接晶圆探针,这进一步简化了硬件,并提供了最大的安装灵活性。

不依赖 PC 性能

完全不受 Windows® 操作系统升级或 PC 更换的影响

 

为保证始终具有最佳效率,DOT800 性能完全独立于用作系统控制器的 PC 以及所安装的软件版本。

仪器程序设计时间是由多个高性能 SPEA CPU 并行生成的,测试程序在更新 Windows® 或更换 PC 时无需重新验证。

系统更新时无需重新验证测试程序

 

借助于 DOT800 操作软件,您可以同时安装多个不同软件版本,包括软件补丁。启动测试程序时,测试仪自动识别用于产生测试程序的软件版本,并用最新版本运行测试程序。这样您就可以始终获得最新和最常操作的软件版本,而不必担心现有的测试程序。

您的测试仪 4.0

 

通向免维护系统:DOT800 收集、分析并对任何偏离标准的性能发出提醒,以便采取要求措施,避免过程退化和停机。

 

规范性维护

在更换批次或晶圆的操作中,DOT800 将自动检查设备校准日期,无需移除或更换生产负载板。这些数据将被保存和分析,然后,在性能不合规格时,测试仪将能发送警报通知, 并自动启动仪器校准程序

 

预防性维护

所有仪器都配有机载内存,用于评估其机械磨损情况。仪器将会计算继电器换向的次数,作出预防性维护必要的指示。这有助您安排维护操作,避免意外停机。

 

仪器功能强大,性能优越

LPE 系列

测试仪内置在主板上

 

LPE 是一款即多处理器、多功能的通道仪器,采用革命性的模块化架构,兼有模拟、数字和信号处理能力。测试一台或多台设备所需的全部资源集中在一块主板上:这样就可以大大简化测试通道和设备之间的装载板连接。这种主板内置测试仪的仪器含有一个板载控制器、四个矩阵卡和多达四个通道卡,一个仪器槽最多共有 256 个通道。您可以选择不同通道卡构建完美的性能组合,以满足测试要求。不多不少,刚好满足测试产品的需要。

DYLPS

低功率 V/I 源

DYLPS201 是一种高精度 32 通道(64 路输出:32 通道,混合比 1:2)低功率 V/I 源和 V/I 回读数字化仪。每个通道的电压电流可达 200V 和 8A。

HPE

HPE

中功率 V/I 源

HPE 是一种 16/32 通道浮式可堆叠、可编组仪器,内设驱动及高精度回读数字化仪,可用于电压电流高达 ±100/400V、10/160A 的 4Q 中功率信号。

HPES

高功率 V/I 源

HPES 100 是一种 8 通道浮式仪器,内设驱动及高精度回读数字化仪,可用于电压电流高达 ±400V、2A 的 4Q 中功率信号。

SVM

SVM

微小数值测量模块

SVM 800 为多合一装置,共有 128 个通道,可测量非常低的电流 (pA)、电容 (fF) 和电压 (µV)。。

高功率发生器

高功率发生器可产生和测量高达 20KV(测量峰值电流)的电压,提供高达 4kA 的脉冲电流。

5G RF option

5G RF Option

毫米波测试模块

一款32通道模块化测试仪可精确测试低频段和中频段的5G设备,频率范围可达18GHz。

直观易用的软件,根据测试工程师的需求而设计

 

DOT800 性能强大,并辅以强大的 ATOS C2 操作软件,为测试开发过程、生产系统使用以及维护作业管理制定了新的标准。

 

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