SPEA 半导体测试仪的性能与强大的 ATOS C2 操作系统相得益彰。ATOS C2 旨在让您在整个过程中节省时间和金钱：透明的多站点管理、可视化调试工具、自动代码生成，将开发、调试和发布新测试程序所需的时间缩短 40%，实际减少了您的量产时间。
从测试设计到生产，围绕您的需求进行设计
- 测试开发和表征时间减少40%
- 以器件为中心，引导式开发
- 透明的多站点管理
- 动态和自定义的工作区
- 并行多版本软件
- 一个许可证下的无限用户
- 轻松的团队测试开发
引导测试开发
整个软件环境及每一个工具都是围绕开发人员的需求而设计的，贯穿于测试应用程序项目的所有阶段。您将在需要时找到确切所需的所有工具：单一环境贯穿于整个测试应用程序开发序列，根据您要执行的操作，动态显示不同的功能
自定义附加组件
为了更好地整合您的文化、工作流程、实践方式、现有的 ERP 环境，ATOS C2 可以安装自定义的附加组件。测试仪功能和软件工具可自定义，在主软件环境中可开发和提供新功能，就像内置的标准应用程序一样。这套定制应用程序可以随着时间的推移进行扩展和修改，独立于软件版本更新，完全透明。
单一软件环境
所有与测试程序开发相关的活动（从规范设计到开发，再到调试和描述）都在同一个软件环境中进行。开发人员无需针对开发过程的不同阶段更改工具，在浮动窗口之间跳转。
可自定义的动态工作空间
在软件菜单中显示的应用程序集可根据不同的活动发生动态变化。可以通过添加或删除应用程序来创建不同的工作空间，进行自定义并保存。
节省 10 倍时间
通过以下方式，将测试开发时间缩短 40%：
- 自动导入
- 一击即中，可测试性分析
- 透明的多站点管理
- 以设备为中心的视角
- 模板编程
- 直接、无代码相关和描述
- 视觉工具
- 用于数据辅助调试的智能数据分析
- 实时分析和更改+离线微调
- 多元素管理
工业 4.0：测试智能工厂
强大的分析工具可为生产中安装的所有系统提供测试仪捕获和性能参数的实时统计分析。这些工具自动检测、识别和注册系统，然后持续监控性能参数，提供完整的故障分析、趋势识别、预测性和规范性维护指示。所有面板都可以自定义，每个指标都可以设置一个或多个警报阈值。该系统还可以与您的工厂 MES 集成，支持主要行业标准（包括 STDF、SECS/GEM、TEMS）
